IPS探針臺(tái)系統(tǒng)
4至8英寸的高性價(jià)比探針臺(tái)（晶圓探針臺(tái)），模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，可無(wú)縫升級(jí)，未來(lái)的測(cè)試要求可在現(xiàn)有的設(shè)備升級(jí)滿足。
探針臺(tái)屬于昂貴且耐用的科研設(shè)備。許多用戶最初采購(gòu)探針臺(tái)時(shí)，僅考慮了現(xiàn)有的測(cè)試測(cè)量要求及相應(yīng)的預(yù)算，因此最開始配置的探針臺(tái)通常僅能滿足某一測(cè)試目的。隨著研究的深入，用戶需要應(yīng)對(duì)不同的測(cè)試時(shí)，卻發(fā)現(xiàn)原來(lái)采購(gòu)的探針臺(tái)已無(wú)法應(yīng)付現(xiàn)有的測(cè)試。
InitialPS（IPS）探針臺(tái)從設(shè)計(jì)之初便考慮了客戶的潛在需求。模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及獨(dú)創(chuàng)的KitStart技術(shù)，讓用戶可在測(cè)試測(cè)量應(yīng)用要求變化時(shí)，可進(jìn)行無(wú)縫升級(jí)。用戶僅需要從多種配置中進(jìn)行簡(jiǎn)單選型即可升級(jí)，無(wú)須對(duì)探針臺(tái)進(jìn)行定制性的修改。便利的升級(jí)環(huán)境，也讓用在開始時(shí)僅配置滿足基礎(chǔ)測(cè)試要求的探針臺(tái)系統(tǒng)，節(jié)約設(shè)備預(yù)算。
SimplePS探針臺(tái)測(cè)量套裝
SimplePS是專為較低預(yù)算而研發(fā)的高可靠性探針臺(tái)系統(tǒng)。
預(yù)算及產(chǎn)品品質(zhì)一直是困擾用戶的兩個(gè)難題。如今，SimplePS測(cè)量套裝的出現(xiàn)，該問(wèn)題將迎刃而解。該套裝在考慮預(yù)算要求的同時(shí)，仍然為用戶提供了高品質(zhì)的產(chǎn)品配置：高穩(wěn)定性、高可靠性的的SimplePS機(jī)臺(tái)、DTP100定位器、S10系列探針夾具及其它相關(guān)的配件。
利用KeyFactor完善的KitStart技術(shù)，SimplePS仍然為用戶提供完整的測(cè)試測(cè)量解決方案。隨著用戶應(yīng)用需求的變化，我們?nèi)匀荒芨鶕?jù)客戶的測(cè)試應(yīng)用對(duì)SimplePS作相應(yīng)的產(chǎn)品升級(jí)。
全鋼材料制作的底座，使SimplePS在較小尺寸外形下，仍然保持著優(yōu)秀的穩(wěn)定性。小體積，低預(yù)算的產(chǎn)品特點(diǎn)，用戶可根據(jù)需求配置多套SimplePS探針臺(tái)，滿足實(shí)驗(yàn)和教學(xué)的多方面需求。
CryoPS高低溫真空探針臺(tái)系統(tǒng)
2至8英寸的高低溫真空探針臺(tái)，用于材料及前端器件的非破壞性電性分析。
KeyFactor的高低溫真空探針臺(tái)可提供高真空及高低溫測(cè)度環(huán)境�？蛇x溫度范圍為4k至675k，用戶可根據(jù)實(shí)際的測(cè)試選擇。我們也為用戶提供定制化的測(cè)試測(cè)量方案，滿足用戶特殊的測(cè)試要求。
CryoPS常用被應(yīng)用于如下測(cè)試中：不同溫度下的I-V/C-V測(cè)試，微波測(cè)試，光電測(cè)試，變磁環(huán)境下magneto-transport表征測(cè)試，理解載流電子濃度的霍爾測(cè)試以及其它材料測(cè)試等等。
HAPS探針臺(tái)系統(tǒng)
8至12英寸的精密型測(cè)試測(cè)量探針臺(tái)。
為了在先進(jìn)的半導(dǎo)體測(cè)試測(cè)量中獲得可靠的測(cè)試結(jié)果，其中的關(guān)鍵之一便是探針臺(tái)本身?yè)碛谐叩臋C(jī)械精度和穩(wěn)性性。HPAS便是為了滿足用戶對(duì)于精準(zhǔn)和可靠性和超高要求研發(fā)的探針臺(tái)系統(tǒng)。
HAPS底座由一塊表面平整精度小于5微米的花崗巖平臺(tái)構(gòu)成。該設(shè)計(jì)不但為探針臺(tái)提供了超高的穩(wěn)定性，還為精度的移動(dòng)定位提供了高精度的基臺(tái)。載物臺(tái)移動(dòng)基座配置了精密的微分頭，可進(jìn)行分辨率的移動(dòng)定位操作。同時(shí)，由于配置了高精度的空氣軸承底座，X-Y的初步定位可快速順滑地進(jìn)行，操作效率不會(huì)受制于精密的微分頭。
由于擁有超高的精度及穩(wěn)定性，HAPS常被應(yīng)用于毫米波表征測(cè)試、亞微米級(jí)探針測(cè)試等測(cè)試測(cè)量應(yīng)用中。
我們可為用戶研發(fā)設(shè)計(jì)專用的探針臺(tái)系統(tǒng)，包括PCB、LCD、TFT等板級(jí)測(cè)試方案，亞微米激光切割方案等等。請(qǐng)聯(lián)系并告知我們您的要求，我們將有專業(yè)的工程人員與您對(duì)接，為您提供專業(yè)的服務(wù)。
專用、定制化的探針臺(tái)系統(tǒng)
