真空探針臺(tái)是一種用于數(shù)學(xué)領(lǐng)域的分析儀器，主要進(jìn)行MEMS 器件晶圓級(jí)的射頻測(cè)試、特種氣體環(huán)境測(cè)試、壓力測(cè)試、光電性能測(cè)試、溫度測(cè)試、震動(dòng)測(cè)試、聲音測(cè)試及電參數(shù)測(cè)試，這些測(cè)試類型都基于探針臺(tái)的真空環(huán)境。當(dāng)真空探針臺(tái)腔體內(nèi)部抽成真空后，對(duì)晶圓上的芯片加上壓力、聲、振動(dòng)、液體、溫度等影響因素，在這些因素環(huán)境中進(jìn)行電性能測(cè)試，對(duì)測(cè)試芯片的優(yōu)劣進(jìn)行判斷。那么真空探針臺(tái)的測(cè)試特點(diǎn)都有哪些呢？下面鍵德測(cè)試測(cè)量小編就來(lái)為大家介紹下。

　　真空探針臺(tái)的測(cè)試特點(diǎn)：

　　(1)節(jié)約人員成本。利用工控機(jī)編程，可以靈活地根據(jù)測(cè)試需求自動(dòng)完成測(cè)試工作，同時(shí)將測(cè)試人員從繁雜的工作量中解放出來(lái)。

　　(2)提升測(cè)試速度。在軟件程序的控制下，自動(dòng)探針測(cè)試可以獨(dú)自完成所有的測(cè)試流程工作，節(jié)省了測(cè)試人員的測(cè)試操作和反應(yīng)的時(shí)間，使工作效率得到很大提升。

　　(3)提高測(cè)試精度。由于軟件程序的精確控制，使得在探針測(cè)試的過(guò)程中，不會(huì)出現(xiàn)由于人為判斷不準(zhǔn)、操作失誤等問(wèn)題，能夠?qū)�測(cè)試的誤差降到最低，使測(cè)試結(jié)果的精度很大提高。

　　(4)長(zhǎng)時(shí)間、高強(qiáng)度及特種環(huán)境測(cè)試。根據(jù)器 件測(cè)試方式與參數(shù)的不同，有時(shí)測(cè)試工作需要長(zhǎng) 時(shí)間持續(xù)地進(jìn)行，手動(dòng)測(cè)試無(wú)法滿足高強(qiáng)度的測(cè)試工作，或者測(cè)試工作需 要在危險(xiǎn)或測(cè)試人員難于進(jìn)入的特種環(huán)境進(jìn)行測(cè)試，自動(dòng)探針測(cè)試技術(shù)幾乎不受時(shí)間、地點(diǎn)、環(huán)境等因素的限制，可以正常完成測(cè)量并取得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。

　　以上關(guān)于真空探針臺(tái)的測(cè)試特點(diǎn)就為大家分享到這里，希望這篇文章對(duì)大家有所幫助。如還有其他關(guān)于真空探針臺(tái)的問(wèn)題想要了解，可以關(guān)注鍵德測(cè)試測(cè)量或給小編留言，我們期待與您一起探討!