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低溫探針臺(tái)的主要特性低溫探針臺(tái)是一種重要的實(shí)驗(yàn)儀器，可用來測(cè)試芯片、晶圓片和封裝器件，應(yīng)用領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、MEMS、超導(dǎo)、鐵電子學(xué)、材料科學(xué)等。那么低溫探針臺(tái)的主要特性都有哪些呢？下面鍵德測(cè)試測(cè)量小編就來為大家介紹下。  溫度控制：低溫探針臺(tái)能夠精確控制測(cè)試區(qū)域的溫度，通常溫度范圍在3K675K(或8K475K等)，以適應(yīng)不同材料的測(cè)試需求。 真空環(huán)境：為了排除環(huán)境因素的影響，低溫探針臺(tái)通常具有真空密封系統(tǒng)，以將整個(gè)實(shí)驗(yàn)區(qū)域與外部環(huán)境隔離開來，提供穩(wěn)定準(zhǔn)確的真空探測(cè)環(huán)境。 磁場(chǎng)施加：部分低溫探針臺(tái)還可以施加磁場(chǎng)(如電磁鐵)，以研究材料在磁場(chǎng)作用下的性能變化。 高精度測(cè)量：低溫探針臺(tái)配備了高精度的測(cè)量電路和探針系統(tǒng)，能夠?qū)悠返奈⑿∽兓M(jìn)行精確測(cè)量。 綜上所述，就是低溫探針臺(tái)的主要特性了，低溫探針臺(tái)能夠?qū)y(cè)試區(qū)域的溫度穩(wěn)定控制在液氦溫度(4.2K)或者更低的溫度下，以滿足超導(dǎo)材料、半導(dǎo)體器件等在極低溫下工作的需要。   |
